什么是芯片测试过程_什么是芯片测试过程

阿尔伯塔（苏州）科技有限公司获得新型射频芯片测试结构相关专利。据金融界消息，2024年11月16日，国家知识产权局信息显示，阿尔伯塔（苏州）科技有限公司已获得一项名为" 《一种新型射频芯片测试结构的制备方法及应用》专利，授权公告号CN118800764B，申请日期为2024年9月

ˋ﹏ˊ

深圳九章半导体已获得用于测试的周转盘专利，可以推进芯片周转的进程...本实用新型 公开了一种用于测试的翻转板，包括平台固定板、隔热板、加热板，从下到上依次排列。加热板内设置有加热管和热电偶。加热板的上侧可拆卸设置转换托盘。 本实用新型设有加热板，在芯片周转过程时提前预热，使芯片能够在高温下测试。 它节省了过程中加热所需的时间，并且实用模型...

精盾智能获得一种芯片烧录测试机专利。据财经新闻2024年11月16日，国家知识产权局信息显示，汕头市精盾智能科技有限公司已获得一项名为"芯片烧录测试机"的专利。 《录音测试机》专利，授权公告号CN118818268B，申请日期为2024年9月。

苏州奥金斯获得一种兼容多尺寸芯片应用的压力测试插座专利。据财经新闻2024年11月16日，国家知识产权局信息显示，苏州奥金斯电子有限公司获得一项"兼容多种芯片尺寸的推下式测试插座"专利，授权公告号为CN118226223B，申请日期为2024年3月。

●０●

江苏丰源电子科技股份有限公司获得一种驱动芯片测试装置专利。据财经新闻2024年11月15日，国家知识产权局信息显示，江苏丰源电子科技股份有限公司获得一种驱动芯片测试装置专利。 《测试装置》专利，授权公告号CN118558626B，申请日期为2024年8月。

上海富瀚微电子获得芯片电性能自动测试专利。2024年11月16日财经新闻，国家知识产权局信息显示，上海富瀚微电子股份有限公司获得《芯片电性能自动测试系统、方法及可控电源模块》专利，授权公告编号CN114325326B，申请日期为2021年12月

≥０≤

厦门优讯未获得ONU光驱芯片突发响应时间ATE测试方法专利。据财经新闻2024年11月16日，国家知识产权局信息显示，厦门优讯芯片有限公司已获得ONU光驱芯片突发响应时间ATE测试方法专利。公司已获得一项名为"一种ONU光驱芯片突发响应时间ATE测试方法"的专利，授权公告号为CN118611756B，申请日期为2024年8月。

北京富光联创科技获得芯片测试装置专利，防止芯片测试加工...金融行业消息2024年11月14日，国家知识产权局信息显示，北京富光联创科技有限公司已获得芯片测试装置专利。 获得"芯片测试装置"专利，授权公告号为CN221993589U，申请日期为2024年1月。 专利摘要显示，本实用新型公开了一种芯片测试装置，属于芯片测试技术领域，针对芯片测试时容易出现的问题...

莫扎特半导体获得防尘芯片测试座专利，可测试不同尺寸的芯片……据金融界消息，2024年11月14日，国家知识产权局信息显示，莫扎特半导体（苏州）有限公司已获得防尘芯片测试座专利。 专利名称为"防尘芯片测试插座"，授权公告号CN221993515U，申请日期为2024年3月。 专利摘要显示，本实用新型涉及芯片测试技术领域，公开了一种防尘芯片测试插座，包括测试插座。该测试插座...

东莞钜芯半导体获得可逆芯片测试治具专利，省去人工...金融行业202411据国家知识产权局3月14日消息，东莞市聚芯半导体科技有限公司已获得一项名为"可逆芯片测试夹具"的专利，授权公告号为CN221993500U，申请日期为2024年1月。 专利摘要表明，本实用新型涉及芯片测试设备技术领域，公开了一种可逆芯片测试装置...

╯▽╰