各种神经递质检测方法优缺点
天准科技申请基于卷积神经网络的缺陷检测方法及缺陷检测装置专利，...金融界消息2024年4月10日，据国家知识产权局公告，苏州天准科技有限公司已申请专利 一个项目名为"基于卷积神经网络的缺陷检测方法及缺陷检测装置"，发表号CN117853452A，申请日期为2024年1月。 专利摘要表明，本发明提供了一种基于卷积神经网络的缺陷检测方法和装置，属于...
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...开发的机器视觉软件算法采用了基于卷积神经网络的表面缺陷检测方法，使用卷积神经网络。 （CNN）和递归神经网络（RNN）等模型进行特征提取和判别？该公司回应：该公司自主开发的机器视觉软件算法包括传统图像解码、缺陷位置融合特征提取和缺陷滤波等图像处理算法，以及基于卷积的 b>神经网络的表面缺陷检测方法等可以完成复杂的...
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绿彩科技获得基于神经网络的印刷品外观缺陷检测工艺专利。该专利技术可...金融行业消息2024年1月29日，根据国家知识产权局公告，广东绿彩科技有限公司已获得专利 一个项目名为"基于神经网络的印刷品外观缺陷检测流程"，授权公告号为CN116482113B，申请日期为2023年4月。 专利摘要表明，本发明涉及印刷品检测领域，具体涉及一种基于神经网络的印刷品外观缺陷检测方法...
科锐科技：自主研发基于深度学习神经网络技术的AOI缺陷检测算法，主要应用...金融行业消息4月29日，有投资者在互动平台问科锐科技：能介绍一下吗？ 公司神经网络技术的具体应用是什么？公司回应：公司已将神经网络技术应用于图像处理，并自主研发了基于深度学习神经网络技术的AOI缺陷检测算法，主要应用于AOI检测相关项目。 本文源自FinancialAIT电报
霍夫迈尔·罗氏获得利用卷积神经网络检测冻干药品缺陷的专利。据金融界消息，2024年9月30日，国家知识产权局信息显示，霍夫迈尔·罗氏股份有限公司已获得一项专利。 其专利为《利用卷积神经网络检测冻干药品缺陷》，授权公告号为CN112912964B，申请日期为2019年10月。
...这些基于迁移学习的半导体芯片检测专利可以有效地完成芯片缺陷的识别和提取功能。苏州天准科技有限公司已申请项目名称为"基于迁移学习的半导体芯片检测方法、装置及存储介质"，公开号CN117574962A，申请日期为2023年10月。 专利摘要表明，本发明提供了一种基于迁移学习的半导体芯片检测方法，该方法包括构建封装芯片缺陷检测神经网络模型和训练封装芯片缺陷检测...
...检测技术专利可在小样本条件下有效识别和提取芯片缺陷。苏州天准科技有限公司已获得项目名称为"基于迁移学习的半导体芯片检测方法、装置及存储介质"，授权公告号CN117574962B，申请日期为2023年10月。 专利摘要表明，本发明提供了一种基于迁移学习的半导体芯片检测方法，该方法包括构建封装芯片缺陷检测神经网络模型以及训练封装芯片缺陷...
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